爱泼斯坦仪(卷名：电工)
Epstein square
用于测量硅钢片低频磁特性的专用磁测量仪器。又称爱泼斯坦方圈。1900年由德国工程师J.爱泼斯坦发明。
爱泼斯坦仪由 4个结构完全相同的矩形截面螺线管组成。每个螺线管上均匀缠绕两个线圈，里层线圈为次级，外层线圈为初级。4个初级线圈和4个次级线圈分别串联。爱泼斯坦仪有0.25m和0.50m两种，分别适用于重量为1kg和10kg的两种试样。以10kg的试样为例，每个螺管线圈的初级与次级的总匝数都是600，被测试样取自大张硅钢片，单个样条的尺寸为0.5ｘ0.03m，取数条共重10kg的试样，其中一半沿硅钢片的辗轧方向取制，另一半沿垂直辗轧方向取制。试样叠成如图
所示的方圈状，四角处采用对接方式。测量时，接入交流电流表A、平均值电压表V、功率表W及频率表Hz。功率表的电压圈与电压表均接到次级。这样，功率表的读数中不包括初级线圈的铜损。若测量试样的交流磁化曲线（即磁通密度-磁场强度曲线），由电流表读数I、初级线圈匝数N1及试样磁路长度L，可计算出磁场强度值H，H=N1I/L。如I为有效值，则H也是有效值；如I为最大值，则H 也是最大值。由平均值电压表读数尃，频率值ƒ及试样等效截面积S，可计算出试样的最大磁通密度值Bm，Bm=尃/4ƒN2S。将电源的电压调到不同数值，可得到不同的磁场强度及相应的磁通密度值，由此可画出试样的交流磁化曲线。而不同磁通密度下的铁损值，可由功率表的读数扣除电压表和功率表电压圈的损耗后得到。由此所测得的材料磁特性，是材料的平均性能。