“四探针测试仪”的意思、由来-百科全书

四探针测试仪　　运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。利用A、B、C、D四个探针，A、D间通以电流I，B、C两针量取电压差（ΔV），则薄层电阻Rs=K·ΔV/I。式中，K为比例常数，和机台及针尖距离有关。可测量片状、块状半导体材料径向和轴向电阻率，测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻（方块电阻）。

出处：材料科学卷 • 信息功能材料 • 元素半导体和硅基材料

词条	四探针测试仪
释义	四探针测试仪材料科学卷四探针测试仪　　运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。利用A、B、C、D四个探针，A、D间通以电流I，B、C两针量取电压差（ΔV），则薄层电阻Rs=K·ΔV/I。式中，K为比例常数，和机台及针尖距离有关。可测量片状、块状半导体材料径向和轴向电阻率，测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻（方块电阻）。出处：材料科学卷 • 信息功能材料 • 元素半导体和硅基材料
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