出处：数理化力学卷 • 化 学 • 分析化学
| 词条 | X射线光电子能谱法 |
| 释义 | X射线光电子能谱法 X射线光电子能谱法 简称“XPS”。一种表面分析方法。其基本原理是利用X射线照射样品,使原子或分子的内、外层(即价电子层)电子受激发而产生光电子,测量光电子的能量和数目,即可得到光电子能谱图。由于价电子对X射线的光电效应截面远小于内层电子,故该法主要用于测量内层电子的结合能。即使在同一分子中,因各组成原子所处的化学环境不同,对它们内层电子能量的影响也有差别,据此可进行相关元素的定性和定量分析或分子的结构鉴定。广泛应用于氧化、腐蚀和吸附等过程所引起的表面组分变化的研究中。 出处：数理化力学卷 • 化 学 • 分析化学 |
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