简称CAT。使用计算机进行的测试。主要为解决大规模或超大规模集成电路的设计和成品检查而发展起来，后推广到其他设备的测试。集成电路复杂，且在一小块半导体芯片上，设计中每个环节都需复核、检查，成品制成后需要测试很多参数，人工测试速度慢且不准确。利用计算机辅助测试，可对集成电路自动测试，得到各种参数，并进行逻辑关系的验证、产品的分类和筛选。