| 词条 | µ子X射线分析 |
| 释义 | µzi X shexian fenxi µ子X射线分析(卷名：化学) muon X-ray analysis 用一定能量的µ-子束射入被研究的物质，根据释放的特征µX射线来进行物质的化学组成和状态分析的方法。µ-子被原子捕获形成µ子原子时，最初处在主量子数n≈14的高激发能级上，随后向基态跃迁，释放一系列特征的X射线，称为µX射线。它们的能量比相应的电子跃迁释放的X射线约高200倍。 1949年中国物理学家张文裕用云室观测铅箔和铁箔对宇宙线中 µ子的吸收，根据记录到的电子，首先发现了µX射线，证实了µ子原子的形成。 µ-子被原子捕获的几率，除了与原子序数有关外，还与化学键的类型有关，根据不同原子放出的特征µX射线的强度，可以测定化合物的组成。在有了高分辨率的锗（锂）探测器后，发现了化学状态对K系和L系中某些条µX射线的相对强度有影响，因此可以根据测定µX射线谱的结构来研究物质的化学结构。 不同的同位素捕获µ-子后，放出的µX射线的能量有差别。愈重的元素差别愈明显。铌148和铌150的 Kα1线相差达3.7×104电子伏。根据放出的µX射线有可能分析重元素的同位素成分。 µ子X射线分析的主要优点是：µ-子能量可以调节，µ-子束经聚焦可将照射范围控制得很小，从而可做局部分析；µX射线能量高，穿透力比电子X射线强得多，可以从样品的深部穿出而被探测。因此，可以分区、分层地分析样品的深部。 参考书目 V.W.Hughes and C.S.Wu，ed.，Muon Physics，Vol.3，p.141， Academic Press， New York， 1975. |
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