词条 | 绝缘材料介电性能测试 |
释义 | jueyuɑn cɑiliɑo jiediɑn xingneng ceshi 绝缘材料介电性能测试(卷名:电工) dielectric properties test of insulating material 绝缘材料的介电性能直接关系这些材料在电工设备中的应用,绝缘材料介电性能测试主要包括绝缘电阻率、相对介电常数、介质损耗角正切(见介质损耗)及击穿电场强度等的测试。测试的结果受很多因素影响,如受环境条件(温度、湿度、气压等)、测试条件(如施加电压的频率、波形、电场强度等)、电极与试样的制备等的影响。因此,必须按有关标准的规定进行测试。 绝缘电阻率测试 通常采用三电极系统(图1)。 ![]() ![]() ![]() 相对介电常数(εr)测试 相对介电常数通常是通过测量试样与电极组成的电容、试样厚度和电极尺寸求得。 应用三电极时,对于平板试样,由于平板电容Cx的计算公式是 ![]() ![]() ![]() ![]() 应用二电极时 ![]() 介质损耗角正切(tan δ)的测定 通过测量试样的等效参数经计算求得。也可在仪器上直读。在工频、音频下一般都用电桥法测量,高电压时采用西林电桥法(图2)。 ![]() ![]() ![]() 当频率为几十千赫到几百兆赫范围时,可用集总参数的谐振法进行测量(图3)。 ![]() Cx=Cns-Cs这时可用变Q值法和变电纳法计算试样的tan δx。在变Q值法中是根据接入试样且回路谐振时的 Q值(Qi)与不接试样且回路谐振时的Q值(Q 0)的变化来计算损耗角正切,即 ![]() ![]() ![]() 在这些测试中,选择电极极为重要。常用的是接触式电极。可用粘贴铝箔、烧银、真空镀铝等方法制作电极,但后者不能在高频下使用。低频测量时,试样与电极应屏蔽。在高频下可用测微电极以减小引线影响。在某些特殊场合,可用不接触电极,例如薄膜介电性能测试和频率高于30兆赫时介电性能的测量。 击穿电场强度测定 绝缘材料的击穿电场强度以平均击穿电场强度(EB)表示 ![]() 工频下击穿电场强度的试验线路如图5。 ![]() 击穿电压可用静电电压表、电压互感器(见互感器)、放电球隙等仪器并联于试样两端直接测出。击穿电压很高时,需采用电容分压器。冲击电压下的击穿电场强度测试,一般用冲击电压发生器产生的标准冲击电压施加于试样,逐级升高冲击电压的峰值直至击穿。冲击电压可用50%球隙放电法、也可用阻容分压器加上脉冲示波器或峰值电压表测量。 |
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